Les clients bénéficient d'une analyse accrue des données sur le silicium pour améliorer la mise en œuvre de la conception, la rampe de rendement des produits et l'efficacité des tests de fabrication.

Synopsys, Inc. a annoncé l'acquisition de Qualtera, un fournisseur en croissance rapide d'analyses collaboratives hautes performances de Big Data pour le test et la fabrication de semi-conducteurs. La technologie analytique avancée de Qualtera, combinée à la solution de gestion du rendement centrée sur la conception Synopsys Yield Explorer® et à la solution d'automatisation des tests Synopsys TestMAX ™, fournit la base pour améliorer le processus d'utilisation des mesures de silicium afin de guider les améliorations tout au long du développement d'un appareil et du cycle de vie de fabrication . Cette combinaison unique permet une solution d'optimisation post-silicium qui est la clé pour maximiser l'efficacité de la conception jusqu'à l'expédition de l'appareil.

Les termes de l'accord, qui ne sont pas significatifs pour les états financiers de Synopsys, ne sont pas divulgués.

"Maximiser le succès de nos clients dans des secteurs hautement compétitifs exige que les phases pré-silicium et post-silicium du cycle de vie du silicium soient entièrement optimisées, et notre objectif est de fournir une solution de bout en bout pour la rendre plus réalisable pour nos clients ", a déclaré Sassine Ghazi , directeur général, Design Group chez Synopsys. "L'acquisition par Synopsys de Qualtera souligne notre engagement à fournir des solutions d'optimisation post-silicium qui répondent aux besoins en évolution de l'industrie des semi-conducteurs dynamiques."

Au début du cycle de vie de l'appareil, l'analyse des données sur le silicium permet d'améliorer les paramètres de modélisation de la conception à utiliser dans les itérations de conception suivantes ou dans les futures conceptions dans le même nœud technologique. Plus tard dans le cycle de vie, des analyses corrélant les informations de conception avec les données détaillées des résultats des tests peuvent être utilisées pour améliorer les rampes de rendement des produits pendant la fabrication. La solution Synopsys Yield Explorer permet d'identifier les limiteurs de rendement systématiques dus aux interactions entre le processus de fabrication et les caractéristiques physiques de conception. La combinaison des forces de Yield Explorer avec les analyses haute performance de Qualtera permet des résultats plus rapides et la capacité d'analyser de plus grands volumes de données pour une précision encore plus grande.

Analytics peut également entraîner des améliorations significatives sur le plancher de test de production. Une analyse intelligente des données de fabrication et de test peut conduire à des actions spécifiques pour augmenter l'efficacité du processus de test. Les capacités d'analyse et de contrôle de la production de Qualtera complètent parfaitement la famille d'automatisation de test TestMAX de Synopsys. En travaillant ensemble, ces solutions permettent l'application de tests plus efficaces et un dépistage des pannes plus précis, aidant les clients à atteindre les coûts de test les plus bas possibles, tout en garantissant la qualité de produit expédiée la plus élevée possible.

À propos de Synopsys

Synopsys, Inc. est le partenaire Silicon to Software ™ pour les entreprises innovantes développant les produits électroniques et les applications logicielles sur lesquelles nous comptons chaque jour. En tant que 15e plus grand éditeur de logiciels au monde, Synopsys est depuis longtemps un leader mondial de l'automatisation de la conception électronique (EDA) et de l'IP semi-conducteur et renforce également son leadership dans les solutions de sécurité et de qualité logicielles. Que vous soyez un concepteur de systèmes sur puce (SoC) créant des semi-conducteurs avancés ou un développeur de logiciels écrivant des applications qui nécessitent la plus haute sécurité et qualité, Synopsys a les solutions nécessaires pour fournir des produits innovants, de haute qualité et sécurisés.

Source : Communiqué de presse

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